ÖZET

Amaç:

Optik koherens tomografi (OKT) ile retina sinir lifi tabakası (RSLT) kalınlığı ölçümlerinin tekrarlanabilirliğini ve güvenilirliğini değerlendirmek.

Ge­reç ve Yön­tem:

Sağlıklı, glokom tanısı veya şüphesi olan 135 kişinin 266 gözü çalışmaya katıldı. Aynı seansta, aynı kişi tarafından, pupil dilate edilmeden, OKT [Opko/OTI,Inc.,Miami,FL] cihazı ile inferior, superior, nazal ve temporal RSLT kalınlığı ardışık olarak 3 kez ölçüldü. Her gözün her kadranının üç ölçümü arasındaki farklar mikron ve yüzde cinsinden karşılaştırıldı. İstatistiksel analiz için ‘Tekrarlı ölçümlerde varyans analizi testi’ kullanıldı. Güvenilirlik ‘Sınıf içi korelasyon katsayısı’(SKK) ile değerlendirildi.

Sonuçlar:

Tüm kadranların SKK’sı 0,72 ile 0,92 arasında olup, nazal kadran ölçümleri en az tekrarlanabilir, inferior kadran ölçümleri ise tüm kadranlar içinde en tekrarlanabilir ölçümler olarak bulundu. Nazal kadran RSLT kalınlığı ölçümlerinin % 9,63’ünde, temporal kadran ölçümlerinin %5,3'ünde, süperior kadran ölçümlerinin %0,6'sında, inferior kadran ölçümlerinin ise sadece %0,3'ünde %20'den fazla hata oranı görüldü.

Tar­tışma:

OKT ile tekrarlanabilir ve daha güvenilir sonuçlar alabilmek için, ardışık olarak birden fazla ölçüm yapılması düşünülmelidir. Nazal ve temporal kadran verilerinin analizinde daha fazla özen gösterilmesi gerektiğine inanmaktayız. (Turk J Ophthalmol 2012; 42: 11-5)